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深圳市共进电子申请电解电容的寿命测试方法专利，提高确定电解电容寿命效率:电解电容
金融界2025年5月14日消息，国家知识产权局信息显示，深圳市共进电子股份有限公司申请一项名为“电解电容的寿命测试方法、系统、计算机设备和存储介质”的专利，公开号CN119959676A，申请日期为
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金融界2025年5月14日消息，国家知识产权局信息显示，深圳市共进电子股份有限公司申请一项名为“电解电容的寿命测试方法、系统、计算机设备和存储介质”的专利，公开号CN119959676A，申请日期为